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  4. 因素①

使用晶片電阻時的注意事項影響電阻溫度係數的主要因素① 

因素① 感測線路的引出位置

分流電阻的電阻值通常較低,僅為數十μΩ~數百mΩ。
用如此低的電阻檢測電壓時,需要用四引腳法進行Kelvin連接。
但是,如(圖1)所示,將感測線路配置在分流電阻的焊盤外側時,會混入佈線銅箔和焊料的電阻分量,從而導致無法進行準確檢測。
另外,佈線銅箔的電阻溫度係數為3900ppm/K左右,遠遠大於分流電阻固有的數值。
為了降低銅箔對電阻溫度係數的影響,必須將感測線路配置在分流電阻的焊盤內側(參見圖2~4)。
例如,GMR50系列不同電阻值在不同感測線路佈局中的電阻溫度係數(20℃→125℃)比較如下。
從各圖中可以看出,在(圖2~4)中,並未表現出太大差異,但在(圖1)中,電阻溫度係數顯著增加。
ROHM技術規格書中給出的電阻溫度係數,通常是在感測線路位於焊盤中心的電路板(圖4)上進行測試而獲得的結果。

圖1

・在焊盤外側配置感測線路

圖2

・在焊盤底部中心配置感測線路

圖3

・在焊盤底部邊緣配置感測線路

圖4

・在焊盤間的產品中心配置感測線路
四引腳連接時的常見測試方法

感測線路位置的影響

✓影響電阻溫度係數的主要因素

電流檢測用 晶片電阻Datasheet下載

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