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常見問題
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  • 在功率衰減曲線中,橫軸的「環境溫度」係代表何種溫度?
    • 在電阻本身未承受電力負載的狀態下,因室溫或電阻四周發熱等因素,而產生的阻抗器週邊之環境溫度,便稱為「環境溫度」。根據JIS規格所定義的內容,環境溫度共分為2種不同的規格。在JIS C 0010規格「環境試驗方法-電氣•電子-通則」第4.6項中規定,「環境溫度」即為「針對下列2種情況所定義之空氣溫度」。而「第4.6.2項 使用發熱測試物時」則將其定義為 「在與測試物之間的距離不會受到發熱影響之處,其自由狀態下的空氣溫度」,並將溫度測量方法列於「備註」中。「備註 在測試物至槽壁之距離的一半,或是與測試物距離1m的範圍,兩者取其中較小值,在距離測試物下方0mm~50mm的水平面位置取數個點進行測量後,所求得的溫度平均值,即為實際的環境溫度。進行上述測量時,必須採取適當的措施,以避免發熱所造成的影響」。在「第4.6.1項 使用非發熱測試物時」中所定義的環境溫度,則為「測試物所處環境中的空氣溫度」。

      在JIS方針中,JIS C 0095規格(熟悉環境試驗方法-電氣•電子-低溫試驗及高溫試驗之必要資訊)中的「第1.4項 環境溫度」亦有如下的記載內容: 「零件及裝置的使用者(尤其是裝置使用者)必須瞭解該產品動作時的環境溫度最高值及最低值,且最好能明確規範前述數值,以供試驗用途。熱傳導與溫度斜率之間具有相關性,因此裝置四周的媒體溫度必然會出現空間性的變化, 使得定義環境溫度的工作具有相當程度的困難性。所以有必要特別針對四周環境的”環境溫度”加以定義。」
    • Products: Resistors
  • 如何進行錫鬚(Whisker)試驗?
    • 評估試驗的內容共分為三項。首先是溫度週期試驗,其條件為-30ºC/80ºC,共實施3000個週期。其次是高溫高濕度試驗,其試驗條件為60ºC、85%RH,持續進行2000小時(約83天)。最後是常溫下放置試驗,試驗條件為3000小時(約125天)。實施試驗後,利用SEM (掃描式電子顯微鏡)加以觀察判斷。以錫鬚增長的狀況做為故障判斷基準,其增加的長度必須在0.1mm以下。
    • Products: Resistors
  • 使用晶片式電阻時,建議的焊錫條件為何?
    • 「焊錫條件」可提供您詳細的說明。該選單內容是以無鉛焊錫的錫膏(Sn-3Ag-0.5Cu)為基礎來加以說明。以流焊(Flow Soldering)、手焊等方式作業時,建議您避免使用超小型晶片式電阻(0603(0201)型)、晶片式排阻(1005(0402) × 2排、× 4排、1608(0603) × 2排、× 4排、× 8排)。否則相鄰的電極間有可能會出現短路(Bridge)的情形。因此,使用時請根據顧客的設備、安裝基板等,事先進行充份的確認及評估。
    • Products: Resistors
  • 該如何考量晶片式電阻的脈衝極限功率(Pulse Limiting Power)較為恰當?
    • 功率極限值的保證範圍與脈衝時間並無關連性,而是受限於各種晶片式電阻的額定電力或是元件最高電壓。使用單一脈衝 (使電阻僅負載1次脈衝電壓的方式)時,應該根據個別資料,提出負載的邊界值作為參考值。若使用連續脈衝(在固定時間內週期性地負載脈衝電壓之方式)時,同樣必須在試驗裝置能夠對應的範圍內,根據個別資料提出負載的邊界值,以作為參考值。
    • Products: Resistors
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