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無鉛技術報告

4種對應技術

在端子的無鉛表面電鍍處理上,ROHM採用了4種技術。


<錫球形成技術>
產品:積體電路(FBGA, WCSP)
選擇之焊接種類:錫焊-銀焊-銅焊;Sn-3.0%Ag-0.5%Cu



<電鍍技術>
產品:積體電路、光連接器模組、半導體雷射、LED/感測器/電晶體/部分二極體產品
選擇之焊接種類:Sn-2%Cu, Sn



<Dip焊接技術>
產品:化合物半導體、LED、LED顯示器、感測器、鉭質電容器
選擇之焊接種類:錫焊-銀焊-銅焊;Sn-3.0%Ag-0.5%Cu



<滾桶電鍍技術>
產品:晶片式固定電阻
選擇之焊接種類:錫焊;Sn






無鉛表面電鍍之耐錫鬚性(Whisker)

在半導體無鉛表面電鍍處理方面,ROHM選擇Sn-2Cu、Sn及Sn-3Ag-0.5Cu來進行處理,而晶片式被動零件的電極電鍍則選擇以Sn來進行處理。


半導體的端子規格及表面電鍍規格
產品群 結構材料 表面電鍍 電鍍方法
積體電路 Cu合金 Sn-2Cu, Sn 電鍍
Fe合金 Sn-2Cu, Sn 電鍍
化合物半導體 Cu合金 Sn-2Cu, Sn 電鍍
Fe合金 Sn-2Cu, Sn 電鍍
Cu合金 Sn-3Ag-0.5Cu 熱浸鍍(Hot Dipping)
Fe合金 Sn-3Ag-0.5Cu 熱浸鍍(Hot Dipping)

<評估結果>

  • 半導體Cu合金結構上的Sn-2Cu鍍金及Sn鍍金,在常溫存放及存放於30ºC70%RH的恆溫恆濕狀態下,會出現針狀錫鬚(Whisker)現象,在經過20分鐘以上150ºC的熱處理後,就不會再出現錫鬚現象。

  • 半導體Fe-Ni合金結構上的Sn-2Cu鍍金,在溫度迴圈試驗中會出現塊狀結晶的現象,結晶體小於35µm,並且不會再變大。

  • 電阻、電容的Sn鍍金,在經過和半導體Fe-Ni合金結構上的Sn-2Cu鍍金相同的溫度循環試驗後,同樣會出現塊狀的錫鬚現象。但其結晶體小於20µm,而且不會再變大。

  • 利用Dip焊接法於表面鍍金所形成的Sn-3Ag-0.5Cu端子,在溫度循環、恆溫恆濕、常溫存放等各種耐錫鬚性評估試驗中均不會產生錫鬚現象。