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最適於行動電話使用的磁性開關﹗
ROHM開發了世界最小的S極/N極檢測霍爾IC「BU52000系列」﹗

2006.04.26
BU52000系列

ROHM成功開發了世界最小的單晶片S極/N極檢測霍爾IC「BU52000系列」。此新產品已經開始樣品的生產,並將於2006年6月起以300萬個的規模投入量產。生產的前期製程在ROHM APPOLO DEVICE(福岡縣築後市)進行,後期製程則在ROHM 福岡(福岡縣行橋市)進行。


現今,伴隨著行動電話的高性能化,液晶螢幕畫面不斷擴大,摺疊式漸漸成為了行動電話的主流款式。以前,摺疊式架構的開關檢測,都以機械式為主要模式,為了防止誤作動,及受到設計方面的制約,非接觸式正逐漸取代機械式成為主流模式。通常,磁性檢測模式需要使用InSb及GaAs霍爾元件,而其同MPU連接的電路需要另外構成,因此就必須是雙晶片架構。此次,ROHM開發的「BU52000系列」則是透過矽實現了霍爾元件和連接電路的單晶片化的同時,使用CSP(包裝名稱︰WL-CSP4)包裝達到了世界最小的超小型化,實際安裝面積減小到過去的1/3甚至1/4,可大幅節省行動電話的空間。另外,同時也實現了低功耗及和高可靠性,擁有各種特長。

 

· 主要特點

  1. 安裝面積為1.1mm×1.1mm×0.5mm,實現世界最小級的超小型、薄型化。
  2. 採間歇工作法,將平均功耗降低到8μA(Typ.),達到大幅度低功耗化。
  3. 透過元件架構及電路的最佳化,達成靜電耐壓8kV(HBM)和高可靠性設計。
  4. 採用矽材質構成的霍爾元件,工作溫度範圍可達到-40℃~+85℃。

ROHM在行動電話LSI和行動裝置LSI領域提供著包括電源管理LSI、類比基頻LSI在內的眾多高可靠性系統解決方案。此次的新產品是運用了ROHM特有的先進技術而開發的,今後我們還將為滿足客戶的要求不斷開發有高附加價值的新產品而努力。


· 規格

規格 型號 包裝 輸出端子數 備考
單極檢測 BU52002GUL VCSP50L1 1 S極檢出
BU52003GUL 1 N極檢出
雙極檢測 BU52001GUL 1 S極·N極檢出
BU52004GUL 2 OUT1:S極檢出
OUT2:N極檢出